EN ISO 7263-2011 瓦楞芯纸.实验室起瓦楞后平压阻力的测定(ISO7263-2011).德文版本ENISO7263-2011
时间:2024-05-17 00:24:28 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8735
【英文标准名称】:Corrugatingmedium-Determinationoftheflatcrushresistanceafterlaboratoryfluting(ISO7263:2011);GermanversionENISO7263:2011
【原文标准名称】:瓦楞芯纸.实验室起瓦楞后平压阻力的测定(ISO7263-2011).德文版本ENISO7263-2011
【标准号】:ENISO7263-2011
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2011-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:纸板(纸);抗压试验;压缩试验;波纹纸板;抗压碎;破碎试验;定义(术语);测定;尺寸规格;平牙抗压性能;实验室试验;维修;材料测试;纸;纸基;耐力;电阻器;试验报告;试验结果;试验;镦锻试验
【英文主题词】:Board(paper);Compressiontesting;Compressiontests;Corrugatedfibreboards;Crushresistance;Crushingtests;Definitions;Determination;Dimensions;Flatcrushresistance;Laboratorytesting;Maintenance;Materialstesting;Paper;Paperbases;Resistance;Resistors;Testreports;Testresults;Testing;Upsettingtests
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y30
【国际标准分类号】:85_080_30
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Environmentaltesting-Testmethods-Tests-TestTe-Solderabilitytestingofelectroniccomponentsforsurfacemounttechnologybythewettingbalancemethod
【原文标准名称】:环境试验规程.第2部分:试验方法.第69节:试验Te:润湿平衡法试验表面镶嵌技术用电子元件软钎焊
【标准号】:BSEN60068-2-69-1996
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1996-08-15
【实施或试行日期】:1996-08-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:响应时间;电气元件;电气设备;重量;温度;环境试验;化学成分;软钎焊性试验;试样制备;试验持续时间;深度;润湿度;试验设备;尺寸;试验条件;记录仪表;硬挺度;屈服应力;接线端;灵敏度;电子设备及元件;电暖垫
【英文主题词】:Components;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricity;Electronicengineering;Electronicequipment;Electronicequipmentandcomponents;Electrotechnicalproducts;Environmentaltesting;Materialstesting;Methods;SMD;Solderability;Solderabilitytesting;Surfacemounting;Testequipment;Testing;Wettingbalances
【摘要】:Describesthesolderbathwettingbalanceandglobulewettingbalancemethodsoftest.Bothareapplicabletocomponentswithmetallicterminationsandmetallizedsolderpads.TobereadinconjunctionwithBSEN60068-1:1995
【中国标准分类号】:A21
【国际标准分类号】:19_040
【页数】:28P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:StandardPracticeforCalibratingtheZ-MagnificationofanAtomicForceMicroscopeatSubnanometerDisplacementLevelsUsingSi(111)MonatomicSteps
【原文标准名称】:用Si(111)单原子层级对原子力显微镜进行次纳米位移级的Z倍率校准的标准规程
【标准号】:ASTME2530-2006
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E42.14
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:校准;位移;力;放大倍率;显微镜;国际单位制;SI单位;台阶
【英文主题词】:atomicforcemicroscope;atomicsteps;AFM;calibration;measurement;silicon;z-magnification
【摘要】:Carefuluseofthispracticecanyieldcalibratedz-magnificationstraceabletotheSIunitoflengthwithuncertainties(k=2)ofapproximately7%overheightrangesofapproximately1nm.1.1Thispracticecoversameasurementproceduretocalibratethez-scaleofanatomicforcemicroscopeusingSi(111)monatomicstepheightspecimens.1.2ApplicationsThisprocedureisapplicableeitherinambientorvacuumconditionwhentheatomicforcemicroscope(AFM)isoperatedatitshighestlevelsofz-magnification,thatis,inthenanometerandsub-nanometerrangesofz-displacement.TheserangesofmeasurementarerequiredwhentheAFMisusedtomeasurethesurfacesofsemiconductors,opticalsurfaces,andotherhightechnologycomponents.1.3ThevaluesstatedinSIunitsaretoberegardedasthestandard.Thevaluesgiveninparenthesesareforinformationonly.1.4Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:6P.;A4
【正文语种】: